材料科学

如果您是一位在半导体,度量学,或高级材料领域工作的材料学家,您需要在不破坏原材料的情况下对其进行识别,或在不改变复杂材料成分和结构的情况下解析其化学成分。Lightcore Technologies BondXplorer 多模式显微镜为您提供多功能可调节的成像平台,无需标记或制备样本,通过化学键的拉曼震动频率[350cm-1, 3800cm-1],对不同化学成分直接进行跟踪和成像。

BondXplorer: 方解石晶体在胶带表面的分布(受激拉曼SRS,λ (OPO) =  929.45nm, 1000cm-1 和1085cm-1 的两个拉曼频率通道同时成像)。(a) 1000cm-1 频段受激拉曼成像(胶带), (b) 1085cm-1 频段受激拉曼成像(方解石), (c) 相位成像。 (d) 双色拼接大图 (紫红色- 胶带; 蓝绿色 – 方解石)。比例尺条 = 100µm。
BondXplorer: 单分子层样本成像,λ (OPO) =  992nm。(a) 拼接大图: 可以清楚的分辨出微米级别的三角形晶体。 (b) 深度成像(深度间隔:0.25µm):随深度变化可以观察到图像整体从左下角向右上角位移,这是由于单分子层样本并不完全呈平面分布所致。比例尺条=50µm。
二硫化钨WS2单分子层样本成像(样本厚度为纳米级) 。 (a) 相位显微镜成像 (b) BondXplorer显微镜成像, λ (OPO) =  982.5nm:可以清楚的分辨出二硫化钨的三角形薄片结构。比例尺条= 50µm. 
BondXplorer: GaN晶体受激拉曼成像。通过改变OPO激光波长 (Delta Emerald laser source from APE),同时获取信号和噪声图像。 (a) – (b): λ(OPO) =  977.3nm  (噪声474cm-1/信号560cm-1); (c) – (d): λ (OPO) = 969.2nm (信号560cm-1/噪声645cm-1)。比例尺条=100µm.